OMNISCAN X3全聚焦相控阵探伤仪功能演示

利用相控阵技术进行腐蚀检测具有很多优势，其中包括较大的覆盖范围和出色的分辨率。但是，熟练掌握相控阵技术具有一定的挑战性。OmniScan X3探伤仪通过精心设计的软件和简单流畅的菜单为用户提供高级功能，从而可使用户简单轻松地获得准确的数据。

• 仪器所提供的高级工具，如：全聚焦方式（TFM）图像，可用于检测腐蚀或其他一些较难探测到的损坏现象，如：高温氢致缺陷（HTHA）和氢致裂纹（HIC）
• 只需极为简单的设置，就可以使用一个多包含64个晶片的孔径生成具有优质分辨率的 全聚焦方式（TFM）图像
• 任何水平的操作人员在使用仪器时都会感到 得心应手
• 得益于简化的菜单结构和设置向导， 用户可以更轻松地设置复杂的解决方案，如：与HydroFORM扫查器配套进行的检测